使用示波器監(jiān)測 MOS 管的柵極、漏極和源極的電壓和電流波形。間歇性故障可能會(huì)導(dǎo)致波形出現(xiàn)異常的波動(dòng)、尖峰或失真。例如，在正常工作時(shí)，柵極驅(qū)動(dòng)電壓應(yīng)該是一個(gè)穩(wěn)定的脈沖信號，如果出現(xiàn)間歇性故障，可能會(huì)觀察到電壓脈沖的幅度不穩(wěn)定、頻率變化或者出現(xiàn)雜波。通過分析這些異常波形，可以初步判斷故障的原因，比如是否是驅(qū)動(dòng)電路問題導(dǎo)致柵極電壓異常，還是 MOS 管本身的性能問題導(dǎo)致漏極電流波動(dòng)。

采用熱成像儀檢測 MOS 管在工作時(shí)的溫度分布。間歇性故障有可能是由于 MOS 管局部 過熱引起的。當(dāng) MOS 管內(nèi)部存在接觸不良或者某個(gè)區(qū)域的電阻異常增大時(shí)，該區(qū)域會(huì)產(chǎn)生更多的熱量，導(dǎo)致溫度升高。熱成像儀可以直觀地顯示出 MOS 管表面的溫度分布情況，幫助確定過熱區(qū)域。一旦發(fā)現(xiàn)過熱點(diǎn)，需要進(jìn)一步檢查該區(qū)域的電氣連接和 MOS 管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，找出導(dǎo)致過熱的原因，如是否存在焊點(diǎn)松動(dòng)、芯片內(nèi)部裂縫等問題，并進(jìn)行相應(yīng)的修復(fù)或更換。