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茂名芯片底部填充膠點膠代加工廠家

來源: 發(fā)布時間:2022-05-20

在便攜式設備中的線路板通常較薄,硬度低,容易變形,細間距焊點強度小,因此芯片耐機械沖擊和熱沖擊差。為了能夠滿足可靠性要求,倒裝芯片一股采用底部填充技術,對芯片和線路板之間的空隙進行底部填充補強。底部填充材料是在毛細作用下,使得流動著的底部填充材料完全地填充在芯片和基板之問的空隙內。由于采用底部填充膠的芯片在跌落試驗和冷熱沖擊試驗中有優(yōu)異的表現(xiàn),所以在焊錫球直徑小、細間距焊點的BGA/CSP 芯片組裝中都要進行底部補強。工藝底部填充膠,一般在室溫下即具有良好的流動性,填充間隙小,填充速度快。茂名芯片底部填充膠點膠代加工廠家

倒裝芯片的組裝流程要求底部填充膠水需要低黏度能實現(xiàn)快速流動,中低溫下快速固化,并且具有可返修性。底部填充膠不能存在不固化、填充不滿、氣孔等缺陷。倒裝芯片的應用注定了需要對芯片補強,而底部填充膠為保護元器件起到了必要決定性作用。兼容性測試可以通過切片分析來觀察,也可以將膠水與錫膏混合后固化來快速判斷?;旌虾蟮牡撞刻畛淠z和錫膏按照規(guī)定時間溫度固化后沒有氣泡或不固化情況,就說明沒有兼容性問題。如果不能判定是否完全固化,可以使用差示掃描量熱儀測試是否有反應峰來驗證。徐州芯片填充膠水廠家底部填充膠有一些非常規(guī)用法。

底部填充膠正確的返修程序:1、在返修設備中用加熱設備將CSP或BGA部件加熱至200~300°C,待焊料熔融后將CSP或BGA部件從PCB上取下。2、用烙鐵除去PCB上的底部填充膠和殘留焊料;3、使用無塵布或棉簽沾取酒精擦洗PCB,確保徹底清潔。底部填充膠返修操作細節(jié):1、將CSP(BGA)包的底部和頂部位置先預熱1分鐘,加熱到200-300°C時,焊料開始融化,現(xiàn)在可以移除邊緣已經軟化的底部填充膠,取出BGA。如果不能順利拿出,可以用鑷子輕輕的撬動BGA四周,使其松動,然后取出。2、抽入空氣除去PCB底層的已熔化的焊料碎細。4、如有必要,可以用工業(yè)酒精清洗修復面再進行修復。5、理想的修復時間是3分鐘之內,因為PCB板在高溫下放置太久可能會受損。

在便攜式設備中的線路板通常較薄,硬度低,容易變形,細間距焊點強度小,因此芯片耐機械沖擊和熱沖擊差。為了能夠滿足可靠性要求,倒裝芯片一股采用底部填充技術,對芯片和線路板之間的空隙進行底部填充補強。底部填充材料是在毛細作用下,使得流動著的底部填充材料完全地填充在芯片和基板之問的空隙內。由于采用底部填充膠的芯片在跌落試驗和冷熱沖擊試驗中有優(yōu)異的表現(xiàn),所以在焊錫球直徑小、細間距焊點的BGA/CSP芯片組裝中都要進行底部補強。在線路板組裝生產中,對芯片底部填充膠有易操作,快速流動,快速固化的要求,同時還要滿足填充性,兼容性和返修性等要求。底部填充膠可以提高元器件結構強度和的可靠性,增強芯片和PCBA之間的抗跌落性。

底部填充膠芯片用膠方案:BGA和CSP是通過錫球固定在線路板上,存在熱應力、機械應力等應力集中現(xiàn)象,如果受到沖擊、彎折等外力作用,焊接部位容易發(fā)生斷裂。此外,如果上錫太多以至于錫爬到元件本體,可能導致引腳不能承受熱應力和機械應力的影響。因此芯片耐機械沖擊和熱沖擊性比較差,出現(xiàn)產品易碎、質量不過關等問題。推薦方案:使用底部填充膠,芯片在跌落測試和高低溫測試中有優(yōu)異的表現(xiàn),所以在焊球直徑小、細間距焊點的BGA、CSP芯片組裝中,都要使用sirnice底部填充膠進行底部補強。sirnice底部填充膠的應用,可以分散降低焊球上的應力,抗形變、耐彎曲,耐高低溫-50~125℃,減少芯片與基材CTE(熱膨脹系數(shù))的差別,能有效降低由于硅芯片與基板之間的總體溫度膨脹特性不匹配或外力造成的沖擊。底部填充膠受熱固化后,可提高芯片連接后的機械結構強度對底部填充膠而言,重要的可靠性試驗是溫度循環(huán)實驗和跌落可靠性實驗。江門miniLED封裝膠廠家

底部填充膠一般粘度比較低,加熱后可以快速固化,而且加熱后易返修,高可靠性。茂名芯片底部填充膠點膠代加工廠家

如何選到合適的底部填充膠?1、熱膨脹系數(shù)(CTE)。焊點的壽命主要取決于芯片、PCB和底部填充膠之間的CTE匹配,理論上熱循環(huán)應力是CTE、彈性模量E和溫度變化的函數(shù)。但根據(jù)實驗統(tǒng)計分析顯示CTE1是主要的影響因素。由于CTE2與CTE1相關性很強,不管溫度在(Tg)以下還是(Tg)以上,CTE2都會隨著CTE1增加而增加,因此CTE2也是關鍵因素。2、玻璃轉化溫度。溫度在材料高CTE的情況下對熱循環(huán)疲勞壽命沒有明顯的影響,但在CTE比較小的情況下對疲勞壽命則有一定影響,因為材料在溫度點以下和溫度點以上,CTE變化差異很大。實驗表明,在低CTE情況下,溫度越高熱循環(huán)疲勞壽命越長。茂名芯片底部填充膠點膠代加工廠家