裝備制造業(yè)是提供技術(shù)裝備的基礎(chǔ)性產(chǎn)業(yè)，涉及一個國家一個地區(qū)的主要競爭力，是增強國民自信的源泉。隨著中國軟實力的不斷增強，相信中國本土自動測試設(shè)備品牌必將在轉(zhuǎn)型升級、不斷創(chuàng)新中迎來更大的發(fā)展。自動測試設(shè)備(ATE)的研制工作始于 20世紀(jì)50年代?，F(xiàn)代測試內(nèi)容日益復(fù)雜, 測試工作量激增,而且要求完成測試的時間越來越短，人工測試很難滿足這些要求,自動測試技術(shù)因而得到迅速發(fā)展。較完善的自動測試設(shè)備是60年代采用電子計算機以后才問世的。電路板功能測試：針對電路板上的各個功能模塊進(jìn)行測試，確保電路板性能穩(wěn)定。南通測試系統(tǒng)安裝
操作系統(tǒng)，可供電路板測試選擇的操作系統(tǒng)很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統(tǒng)時受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)?？偩€技術(shù)，電路板測試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的，儀器控制總線的每一次更新都促進(jìn)電路板測試技術(shù)的更新。儀器控制總線有GPIB總線、VXI總線和PXI總線三種，它們是發(fā)展過程中依次出現(xiàn)的總線技術(shù)，表示著電路板測試技術(shù)的發(fā)展歷程。GPIB總線是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線，多用于常見的臺式儀器上，采用該總線集成的系統(tǒng)體積大、數(shù)據(jù)傳輸速率低（較大數(shù)據(jù)傳輸速率為1MB/s）且同一系統(tǒng)總線上較多可連15臺儀器。浙江測試系統(tǒng)原理PCB功能測試系統(tǒng)用于測試PCB板的功能和連通性。
相對于傳統(tǒng)的測試方法，該系統(tǒng)具有以下無可比擬的優(yōu)勢：1、節(jié)省勞動力，提高生產(chǎn)效率。本系統(tǒng)將傳統(tǒng)方法上多人合作完成的測試項目（多測試步驟）集中到一臺自動測試設(shè)備上，只需手動將針床壓合，系統(tǒng)就會自動進(jìn)行數(shù)據(jù)采集處理，其速度是手動測試無法比擬的。系統(tǒng)對PCBA多信號可同步測試，人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機種的便捷轉(zhuǎn)換，為企業(yè)節(jié)省大量人力物力，并較大程度上提高生產(chǎn)效率。2、易用性，無論是更換機種，或是測試程序編輯，還是具體測試，一般操作者均能輕松掌握。
功能說明：1、導(dǎo)入式系統(tǒng)分析可以很容易地集成到自動檢測線。2、整套系統(tǒng)包括TestJet技術(shù)測試過程。3、測試一個程序集或面板的多個程序集。4、為分析系統(tǒng)導(dǎo)入整個機組測試（被測單元）和各個組件的無電源應(yīng)用。5、使用如DC或先進(jìn)的測量技術(shù)結(jié)合復(fù)合體阻抗測試與多點保護(hù)等功能來檢測出大多數(shù)的故障，如短路，開路和錯誤的或不正確安裝的組件。6、通過在安全無電源模式下找到大部分被測單元故障，7、得出具體的故障診斷信息，使故障被測單元可以快速進(jìn)行維修。靜動態(tài)功能測試系統(tǒng)可測試產(chǎn)品在靜態(tài)和動態(tài)條件下的性能。
80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，***開始完全仿制TESCON測試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場，并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開始，國內(nèi)即有開發(fā)類似的靜態(tài)測試儀，1993年，中國本土品牌更先進(jìn)日本韓國***及香港開發(fā)出全亞洲頭一臺windows版的ICT。時至這里，美國泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點PCB測試：對印刷電路板（PCB）進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測。無錫自動測試系統(tǒng)方案
環(huán)保型測試：功能測試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時，降低能源消耗和環(huán)境污染。南通測試系統(tǒng)安裝
Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測試儀要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使制造費用增高；同時為開發(fā)一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問端口（TAP）的四（五〕個管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。南通測試系統(tǒng)安裝