ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法：模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。 若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 1.2 隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)單獨(dú)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。軟件功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證軟件的功能性。湖州電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)安裝

智能儀器組成的智能測(cè)試系統(tǒng)，在這類測(cè)試系統(tǒng)中，往往有多個(gè)重復(fù)的部件或功能單元。例如，在一個(gè)IEEE-488儀器系統(tǒng)中可能包含微機(jī)、邏輯分析儀、數(shù)字示波器、智能數(shù)字多用表、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等多臺(tái)帶GPIB接口的單獨(dú)式智能儀器。它們都有CRT、鍵盤和存儲(chǔ)器等部件。因此，在利用臺(tái)式、便攜式甚至機(jī)架疊層式智能儀器組成測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，勢(shì)必造成資源浪費(fèi)、成本過高。PC儀器系統(tǒng)，將傳統(tǒng)式單獨(dú)儀器的測(cè)量電路部分與接口部分集中在一起制成儀器卡，而儀器所需的鍵盤、GRT和存儲(chǔ)器等均借助PC機(jī)的資源，就構(gòu)成了PC儀器，又稱模塊式儀器。隨著眾多總線系統(tǒng)的電性能不能滿足官方、航天等部門的更高要求，故改善PC儀器系統(tǒng)的性能并便其標(biāo)準(zhǔn)化勢(shì)在必行。離線測(cè)試系統(tǒng)專業(yè)技術(shù)服務(wù)環(huán)保型測(cè)試：功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)，降低能源消耗和環(huán)境污染。

節(jié)點(diǎn)電壓測(cè)試由于測(cè)試儀測(cè)試對(duì)象不只包括數(shù)字電路器件，也包括大量的模擬電路器件，為進(jìn)一步提高測(cè)試儀的適用范圍，在測(cè)試儀中采用了節(jié)點(diǎn)電壓測(cè)試技術(shù)。通過對(duì)被測(cè)對(duì)象施加工作電壓，由計(jì)算機(jī)讀取測(cè)試節(jié)點(diǎn)的電壓響應(yīng)值，并建立標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信息庫(kù)，供操作人員分析和判斷故障部位。其它功能測(cè)試儀除以上主要功能外，還具備電子手冊(cè)、測(cè)試開發(fā)、系統(tǒng)自檢等輔助測(cè)試功能。在電子加工廠的生產(chǎn)過程中，總會(huì)聽到電路板在線測(cè)試這個(gè)詞，那么這個(gè)測(cè)試到底是什么意思呢？其實(shí)在線測(cè)試就是將SMT貼片加工、DIP插件等加工過程都已經(jīng)完成的電路板按照檢測(cè)點(diǎn)的電氣連接加上上位機(jī)軟件或采集的數(shù)據(jù)等來測(cè)試我們生產(chǎn)的這塊板子是否是符合較初的一個(gè)功能設(shè)計(jì)要求，較后確定加工是否合格的一個(gè)過程。下面簡(jiǎn)單介紹一下在線測(cè)試的主要測(cè)試內(nèi)容。

ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試，就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國(guó)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件（00-53/1）所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試儀的較大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA，測(cè)試時(shí)間在200ms以內(nèi)。通過實(shí)驗(yàn)，基本能夠較好地對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行隔離，同時(shí)也確保了被測(cè)器件的安全性。PCB測(cè)試：對(duì)印刷電路板（PCB）進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測(cè)。

印制電路板所使用到的自動(dòng)測(cè)試技術(shù)發(fā)展迅速，尤其以印制板在線測(cè)試系統(tǒng)（ATE）普遍應(yīng)用于印制板光板及各種產(chǎn)品的印制電路板的生產(chǎn)、檢測(cè)和維修等為主，如右圖。ATE 的測(cè)試方法可分接觸式測(cè)試和非接觸式測(cè)試兩大類。其中接觸式測(cè)試分為在線測(cè)試、功能測(cè)試、BIST 和邊界掃描測(cè)試等；非接觸式測(cè)試又可分為非向量測(cè)試、自動(dòng)視覺測(cè)試、紅外熱圖象測(cè)試、X 射線和激光測(cè)試。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)及VXI 總線技術(shù)的應(yīng)用，各種建立在VXI 測(cè)試平臺(tái)上的印制電路板的ATE 和功能測(cè)試也得到迅速發(fā)展。單元測(cè)試：針對(duì)軟件中的較小可測(cè)試單元進(jìn)行測(cè)試，保證軟件質(zhì)量。湖州可靠性試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)專業(yè)技術(shù)服務(wù)

通用功能測(cè)試：適用于多種電子產(chǎn)品的功能測(cè)試，提高測(cè)試效率，降低成本。湖州電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)安裝

上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代中國(guó)臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，中國(guó)臺(tái)灣開始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因中國(guó)臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開始，國(guó)內(nèi)即有開發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)中國(guó)臺(tái)灣及香港開發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!湖州電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)安裝