邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是它提供了一種簡(jiǎn)單而且快捷地產(chǎn)生測(cè)試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復(fù)雜測(cè)試庫(kù)的困難。用TAP訪問(wèn)口還可實(shí)現(xiàn)對(duì)如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。4 Nand-TreeNand-Tree是Inter公司發(fā)明的一種可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)。在我司產(chǎn)品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設(shè)計(jì)。描述其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量。 在線測(cè)試：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，降低故障風(fēng)險(xiǎn)。無(wú)錫無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)安裝

由于自動(dòng)測(cè)試速度極快，各測(cè)試步驟之間不易分清，難以檢測(cè)出故障。又因測(cè)試的關(guān)鍵部分無(wú)人參與，測(cè)試程序和被測(cè)單元電路圖中的錯(cuò)誤無(wú)人察覺(jué)。因此，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件和軟件均應(yīng)有良好的可靠性，方能保證系統(tǒng)的可靠性。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、使用、維護(hù)和管理都是極其復(fù)雜的課題。先進(jìn)的元器件、計(jì)算機(jī)、機(jī)器人和人工智能技術(shù)推動(dòng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)向數(shù)字化和智能化的方向發(fā)展。由之而來(lái)對(duì)測(cè)試過(guò)程中所需要的工裝（夾具）不斷提出要求，于是電路板測(cè)試儀（又稱電子測(cè)試工裝）應(yīng)運(yùn)而生。南通測(cè)試系統(tǒng)多少錢PCB測(cè)試：對(duì)印刷電路板（PCB）進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測(cè)。

接口的標(biāo)準(zhǔn)化和可撥動(dòng)地址開關(guān):各國(guó)生產(chǎn)的智能儀器大多帶有標(biāo)準(zhǔn)的接口系統(tǒng)，采用IEEE48標(biāo)準(zhǔn)。智能儀器的后面板上配置了一組可撥動(dòng)的地址開關(guān)。使用者可以方便的將儀器聽/講地址設(shè)置為任何希望的數(shù)字。記憶功能:由于配置了存儲(chǔ)器，大多數(shù)智能儀器都縣有一記憶功能。操作者不只可以很方便的通過(guò)面板控制或程序?qū)x器的工作狀態(tài)，甚至測(cè)試數(shù)據(jù)存貯在指定的存儲(chǔ)器中，而且在需要時(shí)還可以方便的調(diào)用存儲(chǔ)器的內(nèi)容。多功能化:上述特點(diǎn)較大程度上增加了智能儀器的測(cè)量功能。

全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國(guó))，Teradyne泰瑞達(dá)(美國(guó))、Check Sum（美國(guó)）、AEROFLEX（美國(guó)）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購(gòu))、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系新（中國(guó)臺(tái)灣）、JET(捷智）、Tr(德泰)、SRC星河、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、TTI,NI,APM(全天科技)等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。功能測(cè)試與生產(chǎn)過(guò)程的融合：將功能測(cè)試與生產(chǎn)過(guò)程緊密結(jié)合，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的實(shí)時(shí)監(jiān)控。

測(cè)試儀組成：硬件模塊：測(cè)試儀由便攜式計(jì)算機(jī)、單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)及測(cè)試分析處理軟件構(gòu)成。其中單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)在計(jì)算機(jī)控制下完成被測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)的采集。部分功能及說(shuō)明如下：?jiǎn)纹瑱C(jī)電路主要完成數(shù)據(jù)采集、控制、命令處理，與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。在測(cè)試儀設(shè)計(jì)中采用了MCS-51系列8031單片機(jī)，選用2764作為擴(kuò)展ROM，6264作為擴(kuò)展RAM。譯碼芯片電路為74LS138。為與計(jì)算機(jī)進(jìn)行串行通信，采用MCl488和MC1489進(jìn)行RS-232C電平與TTL電平的相互轉(zhuǎn)換。單片機(jī)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率選用6MHz晶振，通信波特率選用2400，單片機(jī)采用工作方式3進(jìn)行串行通信。定時(shí)器T1設(shè)置為方式2。設(shè)定SMOD=1，時(shí)間常數(shù)F3H。總線驅(qū)動(dòng)器對(duì)單片機(jī)總線進(jìn)行擴(kuò)展，提高其驅(qū)動(dòng)能力，選用74LS244、74LS245線驅(qū)動(dòng)器?？煽啃栽囼?yàn)系統(tǒng)用于驗(yàn)證產(chǎn)品在不同環(huán)境下的可靠性。上海電子測(cè)試系統(tǒng)安裝

功能測(cè)試系統(tǒng)在產(chǎn)品制造過(guò)程中起著重要作用。無(wú)錫無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)安裝

非向量測(cè)試隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫器件的向量測(cè)試程序常常花費(fèi)大量的時(shí)間，如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù) DeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的單獨(dú)引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。無(wú)錫無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)安裝

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