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便于密封的連接器針座,與針座連接的膠殼,針座包括針座柱以及膠殼槽,針座柱與膠殼槽為一體設(shè)置分布,針座柱上端設(shè)置有膠殼槽,針座柱四周設(shè)置有密封膠,膠殼槽上設(shè)置有限位塊,限位塊與膠殼卡扣連接。針座上設(shè)置膠殼槽,膠殼槽內(nèi)設(shè)置肋槽與肋柱匹配設(shè)置,方便插拔,通過(guò)限位塊與...
針座常見(jiàn)故障分析及維護(hù)方法:芯片測(cè)試是IC制造業(yè)里不可缺少的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。芯片測(cè)試是為了檢驗(yàn)規(guī)格的一致性而在硅片集成電路上進(jìn)行的電學(xué)參數(shù)測(cè)量。硅片測(cè)試的目的是檢驗(yàn)可接受的電學(xué)性能。測(cè)試過(guò)程中使用的電學(xué)規(guī)格隨測(cè)試的目的而有所不同。如果發(fā)現(xiàn)缺陷,產(chǎn)品小組將用測(cè)試數(shù)...
下面我們來(lái)簡(jiǎn)單講講選擇針座設(shè)備時(shí)需要注意事項(xiàng):一、機(jī)械加工精度;二、電學(xué)量測(cè)精度三、環(huán)境要求,如:真空環(huán)境、高溫、低溫環(huán)境、磁場(chǎng)環(huán)境及其它。四、光學(xué)成像;五、自動(dòng)化控制精度??傮w而言,具有清晰并高景深的微觀成像,再通過(guò)準(zhǔn)確的針座裝置對(duì)針座進(jìn)行多方向移動(dòng),對(duì)準(zhǔn)量...
柔性電路板性能測(cè)試用針座,包括模體以及彈性壓頭,模體的表面開(kāi)設(shè)有容置槽,容置槽內(nèi)固定有導(dǎo)針組件,導(dǎo)針組件包括由絕緣材料制成的針座以及由金屬材料制成的多個(gè)針片,針座大小與容置槽大小相適配,針座內(nèi)部設(shè)置有多個(gè)間隔設(shè)置的卡槽,針片固定設(shè)置在各卡槽內(nèi),且針片的兩端部分...
晶圓針座是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備,與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng),這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸,從而大片徑和高效率測(cè)...
針座的上端是在平面上成十字形的連接筋。針座的下端套于留置針的尾端上并與留置針粘接。橡皮塞的下端與連接筋為一個(gè)整體。套筒的下端套于針座的上端上,圓筒形的乳膠套的上端與套筒的外側(cè)粘接,乳膠套的下端與針座的外側(cè)粘接。通過(guò)圓臺(tái)形的橡皮塞與圓臺(tái)形的注射通道相互配合來(lái)對(duì)液...
在半導(dǎo)體器件與集成電路制造工藝中,從單晶硅棒的制取到終器件制造的完成需經(jīng)過(guò)復(fù)雜的工序,可分為前道工序與后道工序,針座是檢測(cè)半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。經(jīng)過(guò)檢測(cè),針座將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來(lái),在進(jìn)入后序工序前予以剔除,降低器件的制造成本。針座...
下面我們來(lái)簡(jiǎn)單講講選擇針座設(shè)備時(shí)需要注意事項(xiàng):一、機(jī)械加工精度;二、電學(xué)量測(cè)精度三、環(huán)境要求,如:真空環(huán)境、高溫、低溫環(huán)境、磁場(chǎng)環(huán)境及其它。四、光學(xué)成像;五、自動(dòng)化控制精度??傮w而言,具有清晰并高景深的微觀成像,再通過(guò)準(zhǔn)確的針座裝置對(duì)針座進(jìn)行多方向移動(dòng),對(duì)準(zhǔn)量...
針座其實(shí)也可稱探針座,但在半導(dǎo)體業(yè)界稱之探針座主要應(yīng)用Probe上,半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測(cè)試。使用范圍:1。小電流量測(cè)及電容量測(cè)。2。高壓量測(cè)。3。R/F量測(cè)。4。I/O點(diǎn)量測(cè)。液相針座堵塞后將針座連接的六通閥的5號(hào)位置拆開(kāi),用兩個(gè)小扳手從下面將整個(gè)針座撬...
在設(shè)備方面,生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試針座的相關(guān)設(shè)備價(jià)格較高,國(guó)內(nèi)廠商沒(méi)有足夠的資金實(shí)力,采購(gòu)日本廠商的設(shè)備。另一方面,對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)備而言,產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)均會(huì)采購(gòu)定制化的設(shè)備,客戶提出自身需求和配置,上游設(shè)備廠商通過(guò)與大型客戶合作開(kāi)發(fā),生產(chǎn)出經(jīng)過(guò)優(yōu)化的適合該客戶的設(shè)備。因...
清潔機(jī)針座。該清潔機(jī)針座包括:針盤和固定在針盤底面的針面;針盤和針面密布有多個(gè)呈圓形矩陣分布的貫穿排水孔;針盤包括:環(huán)形盤面和位于環(huán)形盤面中部的卡接凸起,環(huán)形盤面還具有多層沿周向分布的凸起擋水圈。由于該針座密布有多個(gè)貫穿的排水孔,使得清潔液能夠通過(guò)該排水孔流入...
針座主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。針座從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)。從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控針座,真空針座(很低溫針座),...
針座市場(chǎng)逐年增長(zhǎng):半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要,是必不可少的環(huán)節(jié),主要涉及兩種測(cè)試(CP測(cè)試、FT測(cè)試等)、三種設(shè)備(針座、測(cè)試機(jī)、分選機(jī)等)。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律,測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%,次于晶圓制造裝備,其中測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、針...
可提高產(chǎn)能和高效的連接器針座,其機(jī)臺(tái)上裝設(shè)有送料軌道,針座本體送料機(jī)構(gòu),推料機(jī)構(gòu),第1排pin針?biāo)土辖M裝機(jī)構(gòu),第二排pin針?biāo)土辖M裝機(jī)構(gòu),pin針整形機(jī)構(gòu),第1排pin針折彎?rùn)C(jī)構(gòu),第二排pin針折彎?rùn)C(jī)構(gòu)和卸料機(jī)構(gòu),送料軌道通過(guò)支撐座固定在機(jī)臺(tái)上,推料機(jī)構(gòu)的推料...
針座概要:晶圓針座是在半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程中用于晶片電氣檢查的設(shè)備。在電氣檢查中,通過(guò)針座或針座向晶片上的各個(gè)設(shè)備提供來(lái)自測(cè)量?jī)x器或測(cè)試器的測(cè)試信號(hào),并返回來(lái)自設(shè)備的響應(yīng)信號(hào)。在這種情況下,晶片探測(cè)器用于輸送晶片并接觸設(shè)備上的預(yù)定位置。針座是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備...
針座的上端是在平面上成十字形的連接筋。針座的下端套于留置針的尾端上并與留置針粘接。橡皮塞的下端與連接筋為一個(gè)整體。套筒的下端套于針座的上端上,圓筒形的乳膠套的上端與套筒的外側(cè)粘接,乳膠套的下端與針座的外側(cè)粘接。通過(guò)圓臺(tái)形的橡皮塞與圓臺(tái)形的注射通道相互配合來(lái)對(duì)液...
超薄型側(cè)插針座連接器,包括有鐵殼,板端膠體和線端膠體,鐵殼兩側(cè)彎折有側(cè)翼,形成框口形狀;兩側(cè)翼中分別設(shè)置有側(cè)卡孔,側(cè)翼的底端設(shè)置有焊接部;鐵殼的后部設(shè)置有后卡翼,后卡翼中設(shè)置有后卡孔;鐵殼能便捷地扣到板端膠體上,再通過(guò)左右卡點(diǎn)和尾部卡點(diǎn)將其固定到板端膠體上。鐵...
針座市場(chǎng)占有率及行業(yè)分析:針對(duì)于電學(xué)量測(cè)分析設(shè)備,針座則是眾多量測(cè)設(shè)備之一,針座也是不可或缺的一部分,就目前國(guó)內(nèi)針座設(shè)備的占有率來(lái)講,好的型產(chǎn)品主要集中在歐美以及日本品牌,中端設(shè)備主要集中在品牌,而對(duì)于量測(cè)精度而言,產(chǎn)設(shè)備具有一定的優(yōu)勢(shì),我公司針座系列產(chǎn)品量測(cè)...
可調(diào)整針座,包括梳針和呈長(zhǎng)方體的底座,每?jī)筛後槾怪痹O(shè)置在一圓盤的兩端,底座上開(kāi)有一排呈"一"字型的圓孔,圓盤底部設(shè)置有轉(zhuǎn)軸,轉(zhuǎn)軸的根部設(shè)置在圓孔內(nèi),并與圓孔形成滑動(dòng)連接,底座上設(shè)置有鎖定轉(zhuǎn)軸的鎖定裝置,底座的兩端窄縮形成樞耳,底座通過(guò)樞耳設(shè)置在一支座上,支座...
帶后蓋定位的連接器針座,包括針座本體,PIN針和后蓋,針座本體的背部?jī)蓚?cè)分別成型有后蓋定位板,兩塊后蓋定位板的相對(duì)側(cè)面上分別開(kāi)設(shè)有卡位槽和導(dǎo)向定位槽,后蓋的兩側(cè)分別設(shè)有卡位塊和導(dǎo)向定位塊,當(dāng)后蓋裝設(shè)在兩塊后蓋定位板之間時(shí),PIN針的焊腳端從后蓋上開(kāi)設(shè)的PIN針...
一種針筒式真空采集器的針座組件,包括血管穿刺針管,穿刺針座,采集針管,采集針座和軟連接管,穿刺針座位于真空采集器的針筒內(nèi)腔的前端,采集針座與該針筒固接,采集針管的后端及針管大部分向后延伸并能插置在套置在針筒中的血液樣本收集管的管塞中;軟連接管—端與穿刺針座固接...
針座測(cè)試原理:參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件,然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的反應(yīng).從量測(cè)儀器通過(guò)電纜線至針座桿,然后通過(guò)針座點(diǎn)針測(cè)試點(diǎn)到被測(cè)器件,并后沿原路返回量測(cè)器儀。計(jì)算機(jī)在我們生活中越來(lái)越重要。計(jì)算機(jī)的主要部件是處理器(CPU)和存儲(chǔ)器(RAM),...
錸鎢針座的針尖尖部經(jīng)過(guò)特殊工藝加工而成,針錐精度高,具有厲害度和彈性模量,產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕,表面光滑無(wú)傷,光潔度可達(dá)到Ra0.25以下,幾乎為鏡面。錸鎢針座有不同的針尖類型,即不同的尖部形狀,例如,針尖帶平臺(tái),針尖完全尖以及針尖為圓弧;針座直徑為0.05-...
90度針座連接器,它包括絕緣殼體,針腳,針腳安裝固定在絕緣殼體上,針腳由用于連接插座的連接腳與用于連接電路板的插接腳連接組成,連接腳固定在絕緣殼體內(nèi),插接腳固定在絕緣殼體外,連接腳呈水平放置,插接腳與連接腳垂直連接;由于插接腳與連接腳互相垂直連接,形成90度針...
針座概要:晶圓針座是在半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程中用于晶片電氣檢查的設(shè)備。在電氣檢查中,通過(guò)針座或針座向晶片上的各個(gè)設(shè)備提供來(lái)自測(cè)量?jī)x器或測(cè)試器的測(cè)試信號(hào),并返回來(lái)自設(shè)備的響應(yīng)信號(hào)。在這種情況下,晶片探測(cè)器用于輸送晶片并接觸設(shè)備上的預(yù)定位置。針座是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備...
針座常見(jiàn)故障分析及維護(hù)方法:芯片測(cè)試是IC制造業(yè)里不可缺少的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。芯片測(cè)試是為了檢驗(yàn)規(guī)格的一致性而在硅片集成電路上進(jìn)行的電學(xué)參數(shù)測(cè)量。硅片測(cè)試的目的是檢驗(yàn)可接受的電學(xué)性能。測(cè)試過(guò)程中使用的電學(xué)規(guī)格隨測(cè)試的目的而有所不同。如果發(fā)現(xiàn)缺陷,產(chǎn)品小組將用測(cè)試數(shù)...
晶圓測(cè)試有一點(diǎn)基本就是:晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好與壞,并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試,封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索,進(jìn)而找到高精度、高效率和低成本的測(cè)試方法,并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè),這些要求將引起...
如何將針座連接至待測(cè)點(diǎn):(1)顯微鏡小倍數(shù)物鏡下找到待測(cè)點(diǎn)(或附近的位置),使待測(cè)點(diǎn)成像清晰。(2)確認(rèn)定位器XYZ三軸均中間行程位置(即各軸導(dǎo)軌端面螺絲對(duì)齊)。Z軸也可略向上錯(cuò)開(kāi)3mm左右。(3)安裝并調(diào)節(jié)好針座的高度,側(cè)向平視,觀察針座與樣品臺(tái)(或樣品)間...
針尖有鋁粉:測(cè)大電流時(shí),針尖上要引起多AL粉,使電流測(cè)不穩(wěn),所以需要經(jīng)常用灑精清洗針座并用氮?dú)獯蹈桑瑫r(shí)測(cè)試時(shí)邊測(cè)邊吹氮?dú)?,以減少針尖上的AL粉。針尖有墨跡:測(cè)試時(shí)打點(diǎn)器沒(méi)有調(diào)整好,尼龍絲碰到針尖上,針尖上沾上墨跡,然后針尖與壓點(diǎn)接觸時(shí),壓點(diǎn)窗口上墨跡沾污,使...
孔座針座組件,包括針座和孔座,針座插入在孔座內(nèi)部,在針座的側(cè)部設(shè)有防呆柱,在孔座側(cè)部設(shè)有與防呆柱配合的防呆槽,防呆柱為縱向設(shè)置的長(zhǎng)方體防呆柱,防呆槽包括滑槽部以及與滑槽部連接在一起的深槽部。優(yōu)點(diǎn)體現(xiàn)在:通過(guò)防呆柱及防呆槽的配合設(shè)計(jì),使得產(chǎn)品在對(duì)配的過(guò)程中能夠防...