射頻測(cè)試是產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)過程中保障其通信質(zhì)量的關(guān)鍵測(cè)試。常見的通信射頻檢測(cè)技術(shù)有兩種，一種是通信射頻傳導(dǎo)測(cè)試，即通過射頻發(fā)射端口直接引出射頻線纜連接測(cè)試儀器直接測(cè)量，也叫通信射頻直連測(cè)試。一種是OTA（Over The Air）測(cè)試，是通信設(shè)備的無線電射頻信號(hào)質(zhì)量通過整機(jī)輻射的方式進(jìn)行測(cè)試。 OTA（Over The Air）“空口測(cè)試”是由CTIA（Cellular Telecommunication and Internet Association)早制定的射頻測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，與射頻傳導(dǎo)測(cè)試相比，OTA測(cè)試將被測(cè)件的射頻模組、天線、外殼等作為一個(gè)整體，著重進(jìn)行整機(jī)輻射/接收性能測(cè)試，測(cè)試結(jié)果更接近產(chǎn)品實(shí)際使用性能。主要包括有源和無源無線通訊產(chǎn)品的測(cè)試，測(cè)試項(xiàng)目包含：全向輻射功率（TRP）、全向接收靈敏度（TIS）、整機(jī)2D/3D輻射方向圖、天線增益（Gain）、天線效率等。射頻測(cè)試中的常見指標(biāo)：接收靈敏度、信噪比、發(fā)射功率等等。無錫234G射頻測(cè)試廠家

為什么我們需要射頻測(cè)試？由于全球射頻應(yīng)用眾多，因此有的涉及射頻能量的產(chǎn)品和系統(tǒng)必須在其電磁環(huán)境中運(yùn)行，并且不會(huì)將無法容忍的電磁干擾引入環(huán)境中。因此，在產(chǎn)品或系統(tǒng)投放市場(chǎng)之前，必須對(duì)其進(jìn)行射頻抗擾度和發(fā)射測(cè)試，才能在市場(chǎng)上更好地發(fā)揮它的作用。對(duì)于射頻抗擾度測(cè)試，設(shè)備暴露在射頻干擾和場(chǎng)中，其場(chǎng)強(qiáng)和頻率范圍在其操作環(huán)境中表示。當(dāng)對(duì)一臺(tái)設(shè)備進(jìn)行射頻發(fā)射測(cè)試時(shí)，在正常操作下，該設(shè)備會(huì)受到射頻干擾和場(chǎng)的檢測(cè)。無錫BLE射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試的脈沖測(cè)試中，需要知道脈沖信號(hào)是雷達(dá)系統(tǒng)基礎(chǔ)、常見的信號(hào)形式。

為什么射頻信號(hào)測(cè)試要用示波器？時(shí)域測(cè)量的直觀性-要進(jìn)行射頻信號(hào)的時(shí)域測(cè)量的一個(gè)很大原因在于其直觀性。比如在下圖中的例子中分別顯示了4個(gè)不同形狀的雷達(dá)脈沖信號(hào)，信號(hào)的載波頻率和脈沖寬度差異不大，如果只在頻域進(jìn)行分析，很難推斷出信號(hào)的時(shí)域形狀。由于這4種時(shí)域脈沖的不同形狀對(duì)于終的卷積處理算法和系統(tǒng)性能至關(guān)重要，所以就需要在時(shí)域?qū)π盘?hào)的脈沖參數(shù)進(jìn)行精確的測(cè)量，以保證滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。更高分析帶寬的要求在傳統(tǒng)的射頻微波測(cè)試中，也會(huì)使用一些帶寬不太高（<1GHz）的示波器進(jìn)行時(shí)域參數(shù)的測(cè)試，比如用檢波器檢出射頻信號(hào)包絡(luò)后再進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，或者對(duì)信號(hào)下變頻后再進(jìn)行采集等。此時(shí)由于射頻信號(hào)已經(jīng)過濾掉，或者信號(hào)已經(jīng)變換到中頻，所以對(duì)測(cè)量要使用的示波器帶寬要求不高。但是隨著通信技術(shù)的發(fā)展，信號(hào)的調(diào)制帶寬越來越寬。

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過程被稱為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專門校準(zhǔn)方法的開發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來自探針線和到同軸連接器的過渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。射頻測(cè)試探針通常與具有高口徑定位機(jī)制或電子器件的探測(cè)設(shè)備一起使用。

1.中英?界?，操作簡(jiǎn)單易?；

2.支持BasicRate的所有測(cè)試項(xiàng)?；

3.測(cè)試快速穩(wěn)定，推薦配置（輸出功率、頻率偏置、靈敏?度）8-12s即可完成測(cè)試；

4.可以配置不同產(chǎn)品模板，快速切換?產(chǎn)；

5.測(cè)試數(shù)據(jù)EXCEL表格保存，結(jié)果分析追溯簡(jiǎn)便；

6.支持MES系統(tǒng)對(duì)接，生產(chǎn)質(zhì)量實(shí)時(shí)可追溯可控；

7.兼容安立N4010A、MT8852B、R&SCMW500、CMW270、CMW100、IQXEL；

8.可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行如藍(lán)牙名稱、版本、模組、電量等自動(dòng)檢測(cè)、頻偏校正、PCBA電壓電流；

9.完全?自主開發(fā)，提供定制化服務(wù)；

10.只需更更換治具即可快速切換PCBA、成品測(cè)試；

11.支持高通/CSR、瑞昱、絡(luò)達(dá)、恒玄BES、中星微、原相、博通、中科藍(lán)訊、杰理等方案。 射頻測(cè)試座的話，需要定期保養(yǎng)，比較好是每使用5000次用顯微鏡檢查下接觸探針或者RF射頻連接器的情況。南京RF射頻測(cè)試公司

射頻測(cè)試探針通常由適合探針針型的波導(dǎo)或同軸連接器組成。無錫234G射頻測(cè)試廠家

射頻測(cè)試也會(huì)對(duì)成本比較敏感。如今的無線設(shè)備變得越來越復(fù)雜，競(jìng)爭(zhēng)壓力日趨增大，利潤(rùn)率被壓的很低。同時(shí)，測(cè)試越來越難，單位成本面臨增大的壓力。面對(duì)縮小的利潤(rùn)，制造商想盡一切辦法來降低成本，這就包括降低測(cè)試儀器以及測(cè)試的成本。這不僅體現(xiàn)在生產(chǎn)過程中，同樣體現(xiàn)在研發(fā)過程中，在這兩種環(huán)境下，對(duì)于更多功能、更高吞吐量和更簡(jiǎn)單操作的測(cè)試設(shè)備需求越來越強(qiáng)烈。對(duì)于多空間流的WLAN、LTE和WiMAX系統(tǒng)的測(cè)試，首要目標(biāo)就是在不性能的前提下保持每信道流測(cè)試成本的降低。然而，測(cè)試儀器的成本，特別是在WiMAX系統(tǒng)中，往往會(huì)成倍的增加。比如，為了得到N輸入和M輸出，每個(gè)輸入-輸出需要一個(gè)的發(fā)射機(jī)和一個(gè)接收機(jī)，或者說一個(gè)信號(hào)發(fā)生器和一個(gè)信號(hào)分析儀。更加先進(jìn)的測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)考慮了以上所談到的這些因素。無錫234G射頻測(cè)試廠家

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