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來源: 發(fā)布時間:2024-04-06

ICT測試原理:1)電感測試:電感的測試方法和電容的測試類似,只用交流信號測試。2)二極管測試:二極管正向測試時,加一正向電流在二極管上,二極管的正向壓降為0.7V(硅材料管),加一反向電流在二極管上,二極管壓降會很大。3)三極管測試:三極管分三步測試:先測試bc極和be極之間的正向壓降,這和二極管的測試方法相同。再測試三極管的放大作用:在be極加一基極電流,測試ce極之間的電壓。例如:b、e極加1mA電流時,c、e之間的電壓由原來2V降到0.5V,則三極管處于正常的放大工作狀態(tài)。ICT測試治具根據(jù)電路板的機械尺寸圖,把電路板上面的DIP腳,測試點的位置打孔。鄭州ICT測試治具多少錢

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ICT測試治具的板材是采用什么材料制作而成的,相信還是有很多人不知道的,ICT測試治具中所選用的板材一般有壓克力(有機玻璃)、環(huán)氧樹脂板等。一般的測試治具探細(xì)孔大于1毫米,這類治具主要板材是有機玻璃,主要是由于有機玻璃的價格低,同時相對較軟的鉆孔時有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密,透明的治具,一旦出現(xiàn)問題容易檢查。但是普通的有機玻璃在鉆孔的時候容易發(fā)生溶化和斷鉆頭的情況,特點是鉆孔孔徑小于0.8毫米的,一般鉆孔孔徑小于1毫米時都采用環(huán)氧樹脂板材,環(huán)氧樹脂板材鉆孔不容易斷鉆頭其韌性及剛性都好,環(huán)氧樹脂板沒有脹縮所以如果鉆孔孔徑不精確會造成探針套管與孔之間很松動產(chǎn)生晃動。環(huán)氧樹脂板不透明如果治具具出現(xiàn)問題比較難檢查,另外有機玻璃溫差變形比環(huán)氧樹脂板大一些,如果測試的密度非常高的需采用環(huán)氧樹脂板。鄭州ICT測試治具多少錢ICT測試治具能夠先期找出制程不良所在如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯件、空焊等不良問題。

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測試針帶動ICT測試冶具的運行嗎?隨著信息技術(shù)時代的發(fā)展,而今信息化表示了世界發(fā)展的潮流。信息產(chǎn)業(yè)不僅推動了全球的經(jīng)濟發(fā)展,而且成為科技創(chuàng)新的中心力量。ICT市場前景廣闊,那ICT測試治具來說吧:ICT測試冶具是整個ICT設(shè)計、流片、應(yīng)用過程中不可或缺的一環(huán),它不僅可幫助廠商大幅節(jié)省測試成本,且測試結(jié)果直觀可靠。測試針是ICT測試冶具中的重要零件之一,那么它主要起到了什么作用呢?1、增強耐用度:ICT測試冶具測試針設(shè)計使彈簧空間比傳統(tǒng)探針要大,因而可以達(dá)到更長的壽命和容納更強的彈力。2、獨有的一直不間斷電接觸設(shè)計:行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值,徹底消除任何因探針導(dǎo)致的假性開路誤叛。3、至目標(biāo)測點準(zhǔn)確度誤差更嚴(yán)謹(jǐn):ICT測試冶具的測試針能達(dá)到同類型產(chǎn)品無法比擬的至目標(biāo)測點準(zhǔn)確度。ICT測試冶具通用性高,只需更換顆粒限位框,即可測試尺寸不同的顆粒;采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計,相比同類測試產(chǎn)品,可使ICT和PCB之間的數(shù)據(jù)傳輸距離更短,從而保證測試結(jié)果更穩(wěn)定,頻率更高,DDR3系列較高頻率可達(dá)2000MHz。

測試治具探針的選擇:測試治具,壓床式的測試治具,一般都會用到探針,所以在測試治具設(shè)計時,探針的選擇非常重要。治試治具的探針,已經(jīng)做的標(biāo)準(zhǔn)化了,如大小、長度、高度、行程等,都有一系列的數(shù)值參數(shù)。所以我們要做的就像選擇螺絲一樣,只能選擇探針的型號規(guī)格,而不能想當(dāng)然的想要多少就要多少,想要哪類就要哪類。一般來說,探針的型號,測試治具很重要的是探針的直徑大小。探針的大小用mil為單位的,此單位為英制的。單位的換算為100mil=2.54mm=0.1in。自動化程度較高或者要求較高的生產(chǎn)線會通過圖像識別或者ICT進(jìn)行檢測電容是否插反。

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ICT測試治具的芯片壓塊是用什么材料制作的?特殊IC載板結(jié)構(gòu),保護探針不受外力損壞。座頭頂蓋的芯片壓塊采用人性化結(jié)構(gòu),下壓力度平穩(wěn),保證IC的壓力均勻,不偏移。探針的爪頭凸起能有效刺破錫球的氧化層,接觸性能穩(wěn)定,保護錫球外形。探針:進(jìn)口探針,鈹銅鍍硬金、銠。壽命10萬次以上理性化的定位槽、導(dǎo)向孔可以確定IC定位精確。測試夾具它直接在線通過設(shè)備的電氣性能測試,以發(fā)現(xiàn)制造過程中的缺陷和組件故障。組件的類可以簽出的寬容、故障或損壞、內(nèi)存程序的組件值此類錯誤。過程的類型可以被發(fā)現(xiàn),如焊料電路、插錯了元素,插入落后,缺少設(shè)備、針可予分開、焊縫、PCB電路、斷線和其他故障。ICT測試范圍電阻的測試范圍:一般0.05Ω~40MΩ。深圳ICT儀器品牌

PCBA制作ICT治具的注意事項:被測點應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少0.100"。鄭州ICT測試治具多少錢

ICT測試不良及常見故障的分析方法:零件不良:所謂零件不良是指在ICT測試時,顯示“OpenFail”在零件不良打印報表中其量測值往往與該零件的標(biāo)準(zhǔn)值不一致,而存在一定的偏移,這種偏移有時很大,有時很小,出現(xiàn)的原因也很多,下面分以下幾個步驟加以分析:A.如果是M-V:9999.99Dev:+999.9%,那么可能存在的原因有以下幾個方面:(1)空焊(2)漏件;(3)PCB開路(4)測試點有問題:a.針未接觸到;b.測試點氧化;c.測試點有東西擋??;d.測試點在防焊區(qū)。鄭州ICT測試治具多少錢