ICT測(cè)試治具的板材有那些？環(huán)氧樹脂板材鉆孔不容易斷鉆頭其韌性及剛性都好但價(jià)格較貴一些，環(huán)氧樹脂板沒有脹縮所以如果鉆孔孔徑不精確會(huì)造成探針套管與孔之間很松動(dòng)產(chǎn)生晃動(dòng)。環(huán)氧樹脂板不透明如果夾具出現(xiàn)問題檢查較困難一些，另外有機(jī)玻璃溫差變形比環(huán)氧樹脂板大一些，如果測(cè)試的密度非常高的需采用環(huán)氧樹脂板。板材的選用及鉆孔的精度對(duì)整個(gè)測(cè)試夾具的精度起關(guān)鍵的作用。但是普通的有機(jī)玻璃在鉆孔時(shí)容易發(fā)生溶化和斷鉆頭，特別是鉆孔孔徑小于0.8毫米時(shí)問題很大，一般鉆孔孔徑小于1毫米時(shí)都采用環(huán)氧樹脂板材。ICT測(cè)試治具通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。ICT測(cè)試治具生產(chǎn)批發(fā)

ICT測(cè)試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測(cè)試尺寸不同的顆粒；采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計(jì)，相比同類測(cè)試產(chǎn)品，可使ICT和PCB之間的數(shù)據(jù)傳輸距離更短，從而保證測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定，頻率更高，DDR3系列高頻率可達(dá)2000MHz。ICT測(cè)試治具測(cè)試是如何讀取時(shí)間的?ICT測(cè)試治具可以直接對(duì)在線器件電氣性能來進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試的過程中可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良器件。從內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)所需的時(shí)間，就是ICT測(cè)試治具的存儲(chǔ)器讀取時(shí)間，方法是這樣的：往單元A寫入數(shù)據(jù)"0"，單元B寫入數(shù)據(jù)"1"，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。嘉興在線測(cè)試儀器價(jià)格ICT測(cè)試治具能夠在短短幾秒內(nèi)測(cè)出整塊電路板的好壞。

ICT測(cè)試治具對(duì)產(chǎn)品的檢測(cè)有什么作用呢?作用一是品質(zhì)的保障,因ICT是全檢的機(jī)器，所有元件都受到嚴(yán)格控制，提升品質(zhì)。作用二是降低生產(chǎn)成本,減少維修人員與目視人員的數(shù)量，降低技術(shù)要求，材料與資源的節(jié)省，降低生產(chǎn)成本。作用三是提高企業(yè)形象,產(chǎn)品品質(zhì)的提升，提高企業(yè)形象，業(yè)績(jī)量大增。作用四是效率的提升,ICT它能夠在短短幾秒內(nèi)測(cè)出整塊電路板的好壞，并告知您它壞在哪個(gè)區(qū)域及哪個(gè)零件，快速解決生產(chǎn)制成問題，并促使產(chǎn)品產(chǎn)量提升。

ICT測(cè)試治具能檢測(cè)元器件的各種缺陷和故障：這種測(cè)試是為了確保線路板能否按照設(shè)計(jì)要求正常工作。所以功能測(cè)試簡(jiǎn)單的方法，是將組裝好的某電子設(shè)備上的專門線路板連接到該設(shè)備的適當(dāng)電路上，然后加電壓，如果設(shè)備正常工作，就表明線路板合格。這種方法簡(jiǎn)單、投資少，但不能自動(dòng)診斷故障。ICT測(cè)試治具能夠有效地查找在SMT組裝過程中發(fā)生的各種缺陷和故障，但是它不能夠評(píng)估整個(gè)線路板所組成的系統(tǒng)在時(shí)鐘速度時(shí)的性能。而功能測(cè)試就可以測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)是否能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)，它將線路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，對(duì)其提供輸人信號(hào)，按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。ICT測(cè)試治具：測(cè)試太厚的松香板子不只造成不良的電氣接觸，也會(huì)留住松香在測(cè)試針上造成接下來的測(cè)試。

導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因:IC空焊不良（以TestJet測(cè)試）,測(cè)試值偏小，可能原因：1）IC的此腳空焊；2）測(cè)試針接觸不良；3）從測(cè)試點(diǎn)至IC腳之間Open。4）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）；測(cè)試值偏大，可能原因：1）有短路現(xiàn)象；2）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）。導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因:元器件不良,測(cè)試值偏差超差比較小，則可能原因：1）器件本身的偏差就這么大；2）ICT測(cè)試冶具測(cè)試針的接觸電阻較大；3）錯(cuò)件、焊接不良、反裝。測(cè)試值偏差超差比較大，則可能原因：1）器件壞掉；2）測(cè)試針壞掉（與該針相連的器件均超差比較大）3）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；4）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。5）錯(cuò)件、漏件、反裝；6）器件焊接不良。從內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)所需的時(shí)間，就是ICT測(cè)試治具的存儲(chǔ)器讀取時(shí)間。鄭州ICT自動(dòng)化測(cè)試治具品牌

ICT測(cè)試治具測(cè)驗(yàn)其作業(yè)辦法主要在元器件的線路上。ICT測(cè)試治具生產(chǎn)批發(fā)

ICT測(cè)試治具的應(yīng)力測(cè)試為什么很重要？為了找出問題，避免犯錯(cuò)誤，你可以在印刷電路板上做一個(gè)應(yīng)變測(cè)試，并測(cè)量了大應(yīng)力在產(chǎn)生高壓時(shí)的大應(yīng)力，而應(yīng)力是在允許的范圍內(nèi)。如果測(cè)得的應(yīng)力值，電路板上的允許水平力大值，您可以重新制造或ICT測(cè)試治具的設(shè)計(jì)，或根據(jù)變化過程的要求（一般是調(diào)節(jié)頂針，減少測(cè)試時(shí)，頂壓的電路板），應(yīng)變值降低到允許范圍內(nèi)。IPC/jedec-9704標(biāo)準(zhǔn)識(shí)別有缺陷的組件和ICT測(cè)試程序，并提供PCB應(yīng)變測(cè)試程序進(jìn)行了系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)。即使是一個(gè)很好的夾具的設(shè)計(jì)也會(huì)在印刷電路板上太長(zhǎng)時(shí)間產(chǎn)生很大的壓力。ICT測(cè)試治具生產(chǎn)批發(fā)

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