USB電纜/連接器測試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號帶寬高出很多，電纜、連接器和信號傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對支持10Gbps信號的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對于電纜來說還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和 不對稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來測量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過增加時(shí)域TDR選件(對頻域測試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USB Type-C電纜上要測試的線對數(shù)量很多，通過模塊化的 設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測試項(xiàng)目 都可以通過一 臺多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測試的例子。 usb2.0協(xié)議層調(diào)試方法？機(jī)械USB測試熱線

針對某特定訊號速度(低速、全速或高速)先選擇需進(jìn)行的量測項(xiàng)目，然后根據(jù)層(即DUT的連接層)、測試點(diǎn)(DUT的測試點(diǎn)-近端或遠(yuǎn)程)以及傳輸方向(上傳或下傳測試)設(shè)定應(yīng)用程序，如圖所示。在完成了這兩步之后，使用者即可執(zhí)行自動量測了。接著就是設(shè)置DUT類型、速率、夾具和測試分析模式，由于DUT是device，所以在Device一欄選擇Device；USB2.0的速率為7G；測試的夾具分為了兩類，一類是USB-IF協(xié)會的，另一類就是Tektronix的，在這里選擇的是Tektronix的測試夾具；另外一個(gè)非常關(guān)鍵的點(diǎn)就是TestMethod，是否選用USB-IFSigTest的分析方法，通常，我們會選擇使用；選擇參考時(shí)鐘，一般高速串行信號都會選用SSC模式；還要根據(jù)產(chǎn)品使用。機(jī)械USB測試熱線usb2.0信號和協(xié)議測試？

USB接口測試USB3.0測試USB-IF標(biāo)準(zhǔn)隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測試。是獲得認(rèn)可的測試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。為滿足行業(yè)發(fā)展的需要，提供的USB測試服務(wù)，包括USB一致性測試、USB性能測試以及USB產(chǎn)品調(diào)試實(shí)驗(yàn)室租賃服務(wù)。

測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測試外部裝置主機(jī)內(nèi)插卡集線器系統(tǒng)集成電路電線組件連接器USBOTG

性能特點(diǎn)USB2.0USB3.0USB3.1USB3.2USB4.0

發(fā)布時(shí)間2000年2008年2013年2017年2019年

比較高接口速率480Mbps5Gbps(Genl)10Gbps速率(Gen2)20Gbps(Gen2x2)40Gbps(Gen3x2)

連接器Type-A/B/CType-A/B/CType-A/B/CType-CType-CRetimer(中繼器)無定義無定義無定義支持支持2級

編碼方式無8b/10b128b/132b128b/132b128b/132b

典型電纜長度5m3mlm1m有源電纜1m,0.8m,有源電纜發(fā)送端預(yù)加重?zé)o2階預(yù)加重3階預(yù)加重3階預(yù)加重3階(16種預(yù)設(shè)值)

接收端均衡方式無CTLE(2種強(qiáng)度)CTLE(7種強(qiáng)度)+DFECTLE(7種強(qiáng)度)+DFECTLE(10種強(qiáng)度)+DFE

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) USB2.0一致性測試內(nèi)容；

3.USB4.0回波損耗測試高速串行信號傳輸速率越高，信號的射頻微波化趨勢就越明顯，20Gb/s的數(shù)字信號的Nyquist頻率已經(jīng)高達(dá)10GHz。這種情況下，測試信號的時(shí)域指標(biāo)已經(jīng)越來越難以保證信號的質(zhì)量；因此從Thunderbolt3.0開始，發(fā)送端在正常傳輸數(shù)據(jù)時(shí)的回波損耗測試也變成了一個(gè)必須的測試項(xiàng)目，USB4.0當(dāng)然也不例外。USB4.0定義了發(fā)送端和接收端差分回波損耗及共?；夭〒p耗四個(gè)測試項(xiàng)目。

USB4.0 回波損耗測試的實(shí)際連接和結(jié)果示意圖。它需要 一臺至少 20GHz 帶寬、帶 TDR 選件的網(wǎng)絡(luò)分析儀，  同時(shí)被測體通 過 USB4ETT 軟件和 USB4.0 Microcontroller 產(chǎn)生 PRBS31 的測試碼型。 是德科技提供詳細(xì)的操作步驟和網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)定文件 (State File) 供大家參考。 發(fā)送信號的測試USB需要的要求；機(jī)械USB測試熱線

usb2.0信號質(zhì)量測試系統(tǒng)；機(jī)械USB測試熱線

USB測試

由 于 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 和 接 收 端 非 常 復(fù) 雜 ， 且 要 根 據(jù) 實(shí) 際 鏈 路 質(zhì) 量 進(jìn) 行 協(xié) 商 和 調(diào) 整 。 為 了 方 便 進(jìn) 行 鏈 路 協(xié) 商 的 信 息 交 互 ， U S B 4 . 0 還 提 供 了 額 外 的 邊 帶 通 道 ( S i d e b a n d  C h a n n e l ) 。 邊 帶 通 道 借 助 于T y p e - C接 口 的S B U 1     和 S B U 2 信 號 ， 并 重 新 定 義 成 S B T X 和  S B R X , 用 這 兩 個(gè) 引 腳 實(shí) 現(xiàn) 雙 向 的 信 息 交 互 。 邊 帶 通 道 上 傳 輸 的 是 1 M b p s 數(shù) 據(jù) 速 率 的 低 速  信 號 ， 可 以 用 來 進(jìn) 行 鏈 路 上 設(shè) 備 和 R e t i m e r 的 管 理 ， 包 括 鏈 路 初 始 化 、 鏈 路 使 能 、 斷 開 連 接 、 休眠管理 、 鏈路均衡等 。

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 機(jī)械USB測試熱線