由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖，并根據誤碼率要求進行隨機成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。82496 DDR信號質量的測試方法、測試裝置與測試設備與流程；浙江DDR一致性測試維修價格

DDR地址、命令總線的一致性測試

DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質主要包括：Vmax （最大電壓值）；Vmin （小電壓值）；Overshoot （過沖）和Undershoot （下沖）的持續(xù)時間的大值；Slew Rate （斜率）；Ringback （回溝）等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time （建立時間）和Hold Time （保持時間）。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示，其中加為建立時間，如為 保持時間，針對DDR400,加和如為0.7ns。

浙江DDR一致性測試維修價格DDR4 電氣一致性測試應用軟件。

相關器件的應用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設計建議，甚至參考設計，有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中，要注意這些信息是否齊備。

參考設計，ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件，廠商一般會提供一些參考設計，以幫助使用者盡快實現解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖，用戶可以根據自己的需求進行更改。

IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的，獲得的方法前面已經講過。

我們看到，在用通用方法進行的眼圖測試中，由于信號的讀寫和三態(tài)都混在一起，因此很難對信號質量進行評估。要進行信號的評估，第1步是要把讀寫信號分離出來。傳統(tǒng)上有幾種方法用來進行讀寫信號的分離，但都存在一定的缺陷。可以利用讀寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā)，但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限，因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的，而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣，則不能進行分離。也可以利用讀寫信號的幅度不同進行分離，如圖7-138中間 的圖片所示，但是如果讀寫信號幅度差別不大，則也不適用6還可以根據RAS、CAS、CS、 WE等控制信號來分離讀寫，但這種方法要求通道數多于4個，只 有帶數字通道的MSO示波器才能滿足要求，比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列，對于用戶示波器的要求比較高。DDR時鐘總線的一致性測試。

按照存儲信息方式的不同，隨機存儲器又分為靜態(tài)隨機存儲器SRAM(Static RAM)和 動態(tài)隨機存儲器DRAM(Dynamic RAM)。SRAM運行速度較快、時延小、控制簡單，但是 SRAM每比特的數據存儲需要多個晶體管，不容易實現大的存儲容量，主要用于一些對時 延和速度有要求但又不需要太大容量的場合，如一些CPU芯片內置的緩存等。DRAM的 時延比SRAM大，而且需要定期的刷新，控制電路相對復雜。但是由于DRAM每比特數據存儲只需要一個晶體管，因此具有集成度高、功耗低、容量大、成本低等特點，目前已經成為大 容量RAM的主流，典型的如現在的PC、服務器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內存都是DRAM。尋找能夠滿足您的 DDR 和存儲器需求的特定解決方案。上海DDR一致性測試推薦貨源

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