制定DDR 內(nèi)存規(guī)范的標準化組織是JEDEC(Joint Electron Device Engineering  Council,)。按照JEDEC組織的定義， DDR4 的比較高數(shù)據(jù)速率已經(jīng) 達到了3200MT/s以上，DDR5的比較高數(shù)據(jù)速率則達到了6400MT/s以上。在2016年之 前，LPDDR的速率發(fā)展一直比同一代的DDR要慢一點。但是從LPDDR4開始，由于高性 能移動終端的發(fā)展，LPDDR4的速率開始趕超DDR4。LPDDR5更是比DDR5搶先一步在 2019年完成標準制定，并于2020年在的移動終端上開始使用。DDR5的規(guī)范 (JESD79-5)于2020年發(fā)布，并在2021年開始配合Intel等公司的新一代服務器平臺走向商 用。圖5.2展示了DRAM技術速率的發(fā)展。DDR測試信號問題排查；河北通信DDR一致性測試

JEDEC組織發(fā)布的主要的DDR相關規(guī)范，對發(fā)布時間、工作頻率、數(shù)據(jù) 位寬、工作電壓、參考電壓、內(nèi)存容量、預取長度、端接、接收機均衡等參數(shù)做了從DDR1 到 DDR5的電氣特性詳細對比?？梢钥闯鯠DR在向著更低電壓、更高性能、更大容量方向演 進，同時也在逐漸采用更先進的工藝和更復雜的技術來實現(xiàn)這些目標。以DDR5為例，相 對于之前的技術做了一系列的技術改進，比如在接收機內(nèi)部有均衡器補償高頻損耗和碼間 干擾影響、支持CA/CS訓練優(yōu)化信號時序、支持總線反轉(zhuǎn)和鏡像引腳優(yōu)化布線、支持片上 ECC/CRC提高數(shù)據(jù)訪問可靠性、支持Loopback(環(huán)回)便于IC調(diào)測等。DDR測試DDR一致性測試維修價格DDR4 一致性測試軟件；

對DDR5來說，設計更為復雜，仿真軟件需要幫助用戶通過應用IBIS模型針對基于 DDR5顆?；駾IMM的系統(tǒng)進行仿真驗證，比如仿真驅(qū)動能力、隨機抖動/確定性抖動、寄 生電容、片上端接ODT、信號上升/下降時間、AGC(自動增益控制)功能、4taps DFE(4抽頭 判決反饋均衡)等。

DDR的讀寫信號分離

對于DDR總線來說，真實總線上總是讀寫同時存在的。規(guī)范對于讀時序和寫時序的 相關時間參數(shù)要求是不一樣的，讀信號的測量要參考讀時序的要求，寫信號的測量要參考寫 時序的要求。因此要進行DDR信號的測試，第一步要做的是從真實工作的總線上把感興 趣的讀信號或者寫信號分離出來。JEDEC協(xié)會規(guī)定的DDR4總線的 一個工作時 序圖(參考資料： JEDEC STANDARD DDR4 SDRAM,JESD79-4),可以看到對于讀和寫信 號來說，DQS和DQ間的時序關系是不一樣的。

DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號 下 的 表 現(xiàn) 。 對 于 D D R 來 說 ， D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對 比 較 簡 單 ， 只 是 做 一 些 匹配、時延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時代(圖5 . 19),由于信號速率更高，因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調(diào) 整 以 及 均 衡 器 技 術 ， 這 也 使 得 D D R 5 測 試 中必須關注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR DDR2 DDR3 DDR4 和 DDR5 內(nèi)存帶寬；

DDR系統(tǒng)設計過程，以及將實際的設計需求和DDR規(guī)范中的主要性能指標相結合，我們以一個實際的設計分析實例來說明，如何在一個DDR系統(tǒng)設計中，解讀并使用DDR規(guī)范中的參數(shù)，應用到實際的系統(tǒng)設計中。某項目中，對DDR系統(tǒng)的功能模塊細化框圖。在這個系統(tǒng)中，對DDR的設計需求如下。

整個DDR功能模塊由四個512MB的DDR芯片組成，選用Micron的DDR存諸芯片MT46V64M8BN-75。每個DDR芯片是8位數(shù)據(jù)寬度，構成32位寬的2GBDDR存諸單元，地址空間為Add<13..0>，分四個Bank，尋址信號為BA<1..0>。 DDR4 和 LPDDR4 合規(guī)性測試軟件。DDR測試DDR一致性測試維修價格

擴展 DDR4 和 LPDDR4 合規(guī)性測試軟件的功能。河北通信DDR一致性測試

在實際探測時，對于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號是單端信號，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號的數(shù)量很多，雖然逐 個測試是嚴格的方法，但花費時間較多，所以有時用戶會選擇一些有代表性的信號進行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號進行測試。

還有些用戶想在溫箱里對DDR信號質(zhì)量進行測試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對于使用的示波器探頭也是個挑戰(zhàn)。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會被損壞。如果要在溫箱里對信號進行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內(nèi)提供1.5GHz的測量帶寬。 河北通信DDR一致性測試

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