克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

設(shè)計(jì)評(píng)估數(shù)字化樣機(jī)代替物理樣機(jī)，可同時(shí)由不同學(xué)科的設(shè)計(jì)人員分工設(shè)計(jì)產(chǎn)品的不同部分，在產(chǎn)品的初步方案確定后可進(jìn)行性能分析、有限元分析等，并能對(duì)仿真分析結(jié)果實(shí)時(shí)提出改進(jìn)措施?？s減了研發(fā)成本和研發(fā)周期。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

科學(xué)研究系統(tǒng)記錄測(cè)試者的行為數(shù)據(jù)與生理指標(biāo)，為科學(xué)研究提供客觀有效地?cái)?shù)據(jù)。既免除了搭建物理環(huán)境的昂貴成本，又能大體限度地模擬真實(shí)環(huán)境，避免實(shí)驗(yàn)室效應(yīng)的發(fā)生。 數(shù)字信號(hào)在示波器上而顯示的圖形。眼圖測(cè)試參考價(jià)格

 DDR眼圖測(cè)試1-3

在早期設(shè)計(jì)階段，如何完整評(píng)價(jià)DDR信號(hào)質(zhì)量和時(shí)序等參數(shù)呢，這里為大家介紹一個(gè)設(shè)計(jì)到驗(yàn)證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接導(dǎo)入到運(yùn)行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測(cè)試套件，這個(gè)軟件可以分析前面所說(shuō)的JEDEC對(duì)DDR4信號(hào)要求的電氣和時(shí)序等參數(shù)，判斷是否符合規(guī)范要求，以測(cè)試報(bào)告形式呈現(xiàn)，這種方式可以在設(shè)計(jì)階段發(fā)現(xiàn)違規(guī)問(wèn)題，及時(shí)改進(jìn)設(shè)計(jì)，縮短研發(fā)周期，降低硬件開(kāi)發(fā)成本。另一方面，在硬件已經(jīng)打板回來(lái)，可以通過(guò)V系列等示波器測(cè)試信號(hào)，通過(guò)實(shí)際的信號(hào)檢查存在的問(wèn)題，將仿真的結(jié)果和實(shí)際測(cè)試的結(jié)果做相關(guān)對(duì)比，進(jìn)一步迭代優(yōu)化仿真模型和測(cè)量方法，使仿真和測(cè)試結(jié)果逐漸逼近。 貴州眼圖測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如何幫自己的產(chǎn)品測(cè)試眼圖。

眼圖，是由于示波器的余輝作用，將掃描所得的每一個(gè)碼元波形重疊在一起，從而形成眼圖。其是指利用實(shí)驗(yàn)的方法估計(jì)和改善(通過(guò)調(diào)整)傳輸系統(tǒng)性能時(shí)在示波器上觀察到的一種圖形。觀察眼圖的方法是:用一個(gè)示波器跨接在接收濾波器的輸出端，然后調(diào)整示波器掃描周期，使示波器水平掃描周期與接收碼元的周期同步，這時(shí)示波器屏幕上看到的圖形像人的眼睛，故稱為"眼圖"。眼圖中包含了豐富的信息，從眼圖上可以觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，體現(xiàn)了數(shù)字信號(hào)整體的特征，從而可以估計(jì)系統(tǒng)優(yōu)劣程度，因而眼圖分析是高速互連系統(tǒng)信號(hào)完整性分析。另外也可以用此圖形對(duì)接收濾波器的特性加以調(diào)整，以減小碼間串?dāng)_，改善系統(tǒng)的傳輸性能。

波形參數(shù)測(cè)試是數(shù)字信號(hào)質(zhì)量評(píng)估使常用的測(cè)量方法，但是隨著數(shù)字信號(hào)速率的提高，靠幅度、上升時(shí)間等的波形參數(shù)的測(cè)量方法越來(lái)越不適用了。比如下圖的一個(gè)5Gbps的信號(hào)來(lái)說(shuō)，由于受到傳輸通道的損耗的影響，不同位置的信號(hào)的幅度、上升時(shí)間、脈沖寬度等都是不一樣的。不同的操作人員在波形的不同位置測(cè)量得到的結(jié)果也是不一樣的。

因此我們必須采用別的方法對(duì)于信號(hào)的質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估，對(duì)于高速數(shù)字信號(hào)來(lái)說(shuō)使常用的就是眼圖的測(cè)量方法。 眼圖測(cè)試(信號(hào)完整性測(cè)試)-LVDS物理層信號(hào)完整性？

DDR眼圖測(cè)試1-4

DDR4 做測(cè)試時(shí)，由于 BGA 信號(hào)難以探測(cè)，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，將 BGA 下方的信號(hào)引到 Interposer ，方便探頭焊接，為了減少 Interposer 對(duì)信號(hào)帶來(lái)影響，在 interposer 內(nèi)專門有埋阻設(shè)計(jì)，減少由于分支和走線帶來(lái)的阻抗不連續(xù)和對(duì)信號(hào)的負(fù)載效應(yīng)；但為了精確測(cè)量，我們需要對(duì) BGA Interposer 帶來(lái)的誤差進(jìn)行修正?？梢酝ㄟ^(guò) InfiniiSim 或在 DDR4 一致性測(cè)試軟件N6462A 內(nèi)進(jìn)行去嵌，在軟件內(nèi)使用多端口拓?fù)淠Ｐ停d入 Interposer 的S 參數(shù)，生成從探頭測(cè)試點(diǎn)到 BGA 焊球位置的去嵌傳遞函數(shù)，在示波器中測(cè)得去嵌后的波形，下圖可以看到去嵌后信號(hào)眼圖的改善。 眼圖測(cè)試分析系統(tǒng)參數(shù)？北京機(jī)械眼圖測(cè)試

眼圖測(cè)試(信號(hào)完整性測(cè)試)-HDMI 2.1。眼圖測(cè)試參考價(jià)格

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息，所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具，眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外，眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格，其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板（Mask）”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限，“0”電平的容限，上升時(shí)間、下降時(shí)間的容限。所以眼圖測(cè)量有時(shí)侯又被稱為“模板測(cè)試（MaskTest）”。模板的形狀也各種各樣，通常的NRZ信號(hào)的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的，所以在選擇模板時(shí)要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來(lái)作為接收端眼圖模板，可能會(huì)一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號(hào)、E1/T1的信號(hào)，不是NRZ碼形，其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時(shí)，我們就認(rèn)為信號(hào)質(zhì)量不好，需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板，有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測(cè)量參數(shù)可自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出碰到模板的次數(shù)。此外，根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號(hào)的哪方面有問(wèn)題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號(hào)的問(wèn)題主要是下降沿太緩，圖十表明1電平和0電平有“塌陷”，可能是ISI問(wèn)題導(dǎo)致的。眼圖測(cè)試參考價(jià)格

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