3.面片掃描(Patch Scan)

面片掃描方式允許掃描一個區(qū)域而不再是掃描線。應(yīng)用該掃描方式至少需要四個邊界點(diǎn)信息，即開始點(diǎn)、方向點(diǎn)、掃描長度和掃描寬度。PC DMIS可根據(jù)基本(或缺省)信息給出的邊界點(diǎn)1、2、3確定三角形面片，掃描方向則由D的坐標(biāo)值決定；若增加了第四或第五個邊界點(diǎn)，則面片可以為四方形或五邊形。采用面片掃描方式時，在復(fù)選框中選擇“閉線掃描”，表示掃描一個封閉元素(如圓柱、圓錐、槽等)，然后輸入起始點(diǎn)、終止點(diǎn)和方向點(diǎn)。終止點(diǎn)位置表示掃描被測元素時向上或向下移動的距離；用起始點(diǎn)、方向點(diǎn)和起始矢量可定義截平面矢量(通常該矢量平行于被測元素)?，F(xiàn)以創(chuàng)建四邊形面片為例，介紹面片掃描的幾種定義方式： 交互是多重性的，重復(fù)性的。江蘇優(yōu)勢解決方案

應(yīng)用要點(diǎn)

(1)應(yīng)根據(jù)被測工件的具體特點(diǎn)及建模要求合理選用適當(dāng)?shù)膾呙铚y量方式，以達(dá)到提高數(shù)據(jù)采集精度和測量效率的目的。

(2)為便于測量草作和測頭移動，應(yīng)合理規(guī)劃被測工件裝夾位置；為保證造型精度，裝夾工件時應(yīng)盡量使測頭能一次完成全部被測對象的掃描測量。

(3)掃描測量點(diǎn)的選取應(yīng)包括工件輪廓幾何信息的關(guān)鍵點(diǎn)，在曲率變化較明顯的部位應(yīng)適當(dāng)增加測量點(diǎn)。

有CAD模型如被測工件有CAD模型，開始掃描時用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊CAD模型的相應(yīng)表面，PC DMIS程序?qū)⒃贑AD模型上生成一點(diǎn)并加標(biāo)志“1”表示為掃描起始點(diǎn)；然后點(diǎn)擊下一點(diǎn)定義掃描方向；結(jié)尾點(diǎn)擊終點(diǎn)(或邊界點(diǎn))并標(biāo)志為“2”。在“1”和“2”之間連線。對于每一所選點(diǎn)，PC DMIS已在對話框中輸入相應(yīng)坐標(biāo)值及矢量。確定步長及其它選項(xiàng)(如安全平面、單點(diǎn)等)后，點(diǎn)擊“測量”，然后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。 天津解決方案設(shè)計(jì)行業(yè)信息化發(fā)展過程和前景預(yù)測。

3. 采用小孔出氣**技術(shù)，耗氣量為30L/Min，在軸承間隙形成冷凝區(qū)域，抵消軸承運(yùn)動摩擦帶來的熱量，增加設(shè)備整體熱穩(wěn)定性。仔細(xì)研究各廠家的技術(shù)指標(biāo)，會發(fā)現(xiàn)：歐潼精密的耗氣量為30L/Min，而其他的廠家在50-150L/MIN之間. 按照物理學(xué)理論，當(dāng)氣體以一定的壓力通過圓孔的時候，會因?yàn)闅怏w摩擦產(chǎn)生熱量，在高精密測量中，微小的熱量也會影響精度的穩(wěn)定性，而當(dāng)出氣孔的孔徑小于一定的直徑的時候，卻會相反的會在出氣孔的周圍形成冷凝效應(yīng)! 正是利用這一物理學(xué)原理，采用歐潼小孔出氣的技術(shù)，使得冷凝效應(yīng)恰恰抵消測量中因?yàn)榭諝饽Σ廉a(chǎn)生的微弱熱量，使得設(shè)備保持長時間的溫度穩(wěn)定性，從而保證精度穩(wěn)定性！

三坐標(biāo)測量儀:精密測量模具裝備的儀器.

三坐標(biāo)測量儀三軸均有氣源制動開關(guān)及微動裝置，可實(shí)現(xiàn)單軸的精密傳動，采用高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。應(yīng)用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、模具裝備、齒輪測量、葉片測量機(jī)械制造、工裝夾具、汽模配件、電子電器等精密測量。

三坐標(biāo)測量儀是指在一個六面體的空間范圍內(nèi)，能夠表現(xiàn)幾何形狀、長度及圓周分度等測量能力的儀器，又稱為三坐標(biāo)測量機(jī)或三坐標(biāo)量床。三坐標(biāo)測量儀又可定義“一種具有可作三個方向移動的探測器，可在三個相互垂直的導(dǎo)軌上移動，此探測器以接觸或非接觸等方式傳遞訊號，三個軸的位移測量系統(tǒng)（如光柵尺）經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件的各點(diǎn)（x，y，z）及各項(xiàng)功能測量的儀器”。三坐標(biāo)測量儀的測量功能應(yīng)包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等。 如果有很好的分析問題，對成功案例進(jìn)行客觀分析，本身也是產(chǎn)生更好解決方案的基礎(chǔ)。

測量方法

平面度誤差測量的常用方法有如下幾種：

1、平晶干涉法：用光學(xué)平晶的工作面體現(xiàn)理想平面，直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測表面的平面度誤差值。主要用于測量小平面，如量規(guī)的工作面和千分尺測頭測量面的平面度誤差。

平面是由直線組成的，因此直線度測量中直尺法、光學(xué)準(zhǔn)直法、光學(xué)自準(zhǔn)直法、重力法等也適用于測量平面度誤差。測量平面度時，先測出若干截面的直線度，再把各測點(diǎn)的量值按平面度公差帶定義(見形位公差)利用圖解法或計(jì)算法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理即可得出平面度誤差。也有利用光波干涉法和平板涂色法測量平面誤差的。 IT行業(yè)需求的市場細(xì)分與目標(biāo)市場選擇。江蘇解決方案銷售方法

能夠親自參與到具體執(zhí)行中的解決方案，是更容易被客戶認(rèn)可和青睞的。江蘇優(yōu)勢解決方案

尤其是符合較小條件的評定基準(zhǔn)面的位置是按實(shí)際表面的形狀確定的，不可能在測量之前預(yù)先確定。且測量所得到的原始數(shù)據(jù)中的較大值與較小值并不一定是實(shí)際表面上的比較高點(diǎn)和比較低點(diǎn)，故在數(shù)據(jù)處理之前，一般應(yīng)根據(jù)所測數(shù)據(jù)對實(shí)際表面的形狀特征進(jìn)行大致分析，初步判斷實(shí)際表面是凸形、凹形、鞍形或其它復(fù)雜形態(tài)，以免過多重復(fù)計(jì)算花費(fèi)時間，必要時還可畫出其數(shù)據(jù)空間分布示意圖，進(jìn)而確定其評定基準(zhǔn)面。數(shù)據(jù)處理方法有：解析法、坐標(biāo)變換法和投影作圖法等。其中坐標(biāo)變換法對數(shù)據(jù)處理帶有一般性。江蘇優(yōu)勢解決方案