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來源: 發(fā)布時間:2025-04-05

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定時分析與狀態(tài)分析的主要區(qū)別是:定時分析由內(nèi)部時鐘控制采樣,采樣與被測系統(tǒng)是異步的;狀態(tài)分析由被測系統(tǒng)時鐘控制采樣,采樣與被測系統(tǒng)是同步的。用定時分析查看事件“什么時候”發(fā)生,用狀態(tài)分析檢查發(fā)生了“什么”事件。定時分析通常用波形顯示數(shù)據(jù),狀態(tài)分析通常用列表顯示數(shù)據(jù)。六、小結(jié)邏輯分析儀主要用來測試以微處理器為的數(shù)字系統(tǒng),在硬件電路、嵌入式系統(tǒng)和監(jiān)控軟件的研制和調(diào)試過程中,都是一個必備的工具。邏輯分析儀具有豐富的觸發(fā)條件,不管被測系統(tǒng)多么復(fù)雜,邏輯分析儀都能準確地找到那些隱蔽的、偶然的特殊時刻,然后把觸發(fā)條件發(fā)生前后,各信號的時序圖和數(shù)據(jù)流顯示出來。問題也就看清楚了,不需要再絞盡腦汁的推理和猜測了。溫州I3C分析儀那家好UniPro邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

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還要對信號進行放,因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應(yīng)主要分為兩種類型:直流負載和交流負載。直流負載:探頭看起來象一個對地的直流負載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個負載可能會導(dǎo)致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定,這個電阻阻值越,直流負載越小,阻值越小,直流負載越。交流負載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號反射的原因是4個方面:探頭電容和電感;探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓撲結(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長度。對于交流負載,我們需要考慮:探測點在傳輸線的位置,總線的拓撲結(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。

歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時,歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。DampedResistorProbing),電阻匹配探測(ResistiveDividerProbing)。短線探測會增加電容負載。舉例:探頭電容負載是,連接短線是50歐姆微帶線。C=3pF/in),長度1英寸。則整個探頭的電容負載是,這個短線是電容負載的主要部分。被測系統(tǒng)可容忍的負載電容是多少呢?需要參考被測電路的系統(tǒng)上升時間,一般規(guī)則:短線的電氣長度<>PCB傳輸延遲:150ps/in系統(tǒng)上升時間:500ps則電氣長度:則短線長度:(100ps)/(150ps/in)=。如果沒法減小短線長度,可以試著用阻尼電阻探測的方式。阻尼電阻有2個作用:隔離來自短線的電容,消減來自短線的反射。PMBus邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

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4、比較幀類型:可自行選擇;5、數(shù)據(jù):可輸入對應(yīng)幀類型數(shù)據(jù)的十進制,十六進制,八進制。設(shè)置效果如圖6所示:圖6幀查找屬性設(shè)置七、解碼數(shù)據(jù)準確定位完成設(shè)置,則可以通過查找具體的查找類型進行顯示,效果如圖7所示:圖7查找結(jié)果顯示此次查找共有68個查找結(jié)果,可通過如下操作觀測每一個查找結(jié)果,效果如圖8所示:圖8查找結(jié)果數(shù)據(jù)分析ZLG致遠電子邏輯分析儀具有超大容量存儲、智能過濾存儲、高保真不間斷實時記錄、高效的協(xié)議分析平臺、觸發(fā)搜索多樣化、靈活的參數(shù)測量,能夠定位系統(tǒng)運行出錯時的特定波形數(shù)據(jù)。針對數(shù)字電路的開發(fā)和測試人員可以用邏輯分析儀對電路進行精確的狀態(tài)或時序分析,以檢測分析電路設(shè)計中的錯誤,從而迅速定位,解決問題。SDIO邏輯分析儀/訓(xùn)練器廠家只找歐奧,服務(wù)好!株洲PCIE分析儀售價

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USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。序列步驟存儲總會覆蓋默認存儲,但只針對序列步驟存儲中特別指定的條件。處理默認存儲和序列步驟存儲之間的時一定要謹慎。雖然設(shè)置邏輯分析儀很困難,但觸發(fā)函數(shù)可以降低此過程的難度。觸發(fā)函數(shù)是可以組合起來設(shè)置觸發(fā)的常用構(gòu)建塊。由于這些函數(shù)涵蓋了多數(shù)普通觸發(fā),因此通過選擇適當(dāng)?shù)暮瘮?shù)并將其填充到數(shù)據(jù)中即可設(shè)置觸發(fā)。下圖顯示了邏輯分析儀觸發(fā)用戶界面。請注意,觸發(fā)函數(shù)位于屏幕左側(cè)的一個醒目位置。圖21使用觸發(fā)函數(shù)通常,設(shè)置復(fù)雜觸發(fā)的難題是對問題進行分解。換句話說,就是如何將復(fù)雜觸發(fā)映射到序列步驟、分支和布爾邏輯表達式。將問題分解為不同時發(fā)生的事件。這些事件對應(yīng)于序列步驟。掃描觸發(fā)函數(shù)列表,嘗試找出一些與步驟1中確定的事件相匹配的函數(shù)。將所有剩余事件分解為布爾邏輯表達式及其相應(yīng)操作。各個布爾邏輯表達式/操作對分別對應(yīng)于序列步驟中的一個單獨分支。請記住,可能存在只用于為序列步驟處理存儲限定的“存儲”分支。設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)與編寫軟件相徑庭。如果使用預(yù)定義的觸發(fā)函數(shù)和較早編寫的文檔完善的觸發(fā)來完成其他工作,就可降低設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)的難度。在沒有其他可用的資源時。無錫PCIE分析儀品牌