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來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-03-29

就無法區(qū)分給定信號轉(zhuǎn)變區(qū)域是與時(shí)鐘上升沿相關(guān)聯(lián),還是與下降沿(或兩者)相關(guān)聯(lián)。眼定位工作原理:通過邏輯分析儀使用少量的偏移延遲對每個(gè)通道進(jìn)行雙重采樣的功能,以及通過使用獨(dú)有的OR操作比較延遲的樣本可進(jìn)行眼定位測量。圖14眼定位工作原理當(dāng)獨(dú)有的OR輸出很高時(shí),延遲的樣本會(huì)有所差別,并且會(huì)在延遲時(shí)間之間檢測到轉(zhuǎn)變。由于采樣信號的不穩(wěn)定和其他變化,眼定位測量將對每對延遲值的多個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行檢查,以便報(bào)告兩次延遲時(shí)間之間發(fā)生轉(zhuǎn)變的頻率。然后,檢查另一對延遲值,依次類推,直到掃描完轉(zhuǎn)變的整個(gè)時(shí)間范圍。圖15延遲值記錄因?yàn)檫壿嫹治鰞x可以調(diào)整通道的閾電壓,所以眼定位測量可在很多閾電壓電平隨著時(shí)間的推移對轉(zhuǎn)變進(jìn)行重復(fù)掃描。圖16眼定位的多閾值掃描通過調(diào)整閾電壓和查看活動(dòng)指示符,眼定位可查找信號活動(dòng)信封并確定佳閾電壓;然后通過在該閾值執(zhí)行全時(shí)掃描,眼定位可找出樣本位置。圖17眼定位的閾值和采樣位置掃描也可以在當(dāng)前閾電壓設(shè)置下運(yùn)行全時(shí)掃描,以便自動(dòng)設(shè)置采樣位置。圖18掃描采樣位置自動(dòng)閾值和采樣位置設(shè)置掃描通常足以確保正確采集數(shù)據(jù),但它還可以識(shí)別您想要進(jìn)一步詳細(xì)查看的信號(例如,如果您想查看延遲、衰減等)。USB PD,3.1, 3.0,2.0邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!深圳I2C/SPI協(xié)議分析儀電話

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以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。沒有額外的被測設(shè)備)的一小段時(shí)間內(nèi),可以自動(dòng):定位每個(gè)通道上的建立/保持窗口。針對盡可能寬的數(shù)據(jù)有效窗口調(diào)整閾電壓設(shè)置。眼定位是獲得盡可能小的邏輯分析儀建立/保持窗口的一種簡單方法。眼定位概要:對于指定的狀態(tài)采樣時(shí)鐘,眼定位可在時(shí)鐘沿前后的一個(gè)固定時(shí)間范圍內(nèi)查找數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)變(閾電壓交叉點(diǎn)),并為顯示相關(guān)內(nèi)容以幫助設(shè)置佳采樣位置。為了了解眼定位顯示,需為每個(gè)活動(dòng)時(shí)鐘沿拍攝一張有關(guān)該時(shí)鐘沿的數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)變的“照片”。將此照片看作快照、定格畫面或頻閃觀測儀(位于時(shí)鐘沿中心或與時(shí)鐘沿同步)。到達(dá)時(shí)鐘沿的時(shí)間為T=0。例如,如果選擇盒1上時(shí)鐘輸入的上升沿作為狀態(tài)采樣時(shí)鐘,每次拍攝“照片”時(shí),都將達(dá)到盒1時(shí)鐘上的上升沿。盒1時(shí)鐘沿之間的時(shí)間是否相同無關(guān)緊要。如果同時(shí)在上升沿和下降沿上進(jìn)行采樣,那么在每一個(gè)時(shí)鐘沿上都會(huì)拍攝一張“照片”。此外,在活動(dòng)沿之間消耗了多少時(shí)間也不重要。每一個(gè)時(shí)鐘沿上都要拍攝“照片”。要構(gòu)建眼定位顯示。深圳I2C/SPI協(xié)議分析儀電話邏輯分析儀/訓(xùn)練器廠家直銷就找歐奧!

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因?yàn)閭鬟f過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型:直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載:探頭看起來象一個(gè)對地的直流負(fù)載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定,這個(gè)電阻阻值越,直流負(fù)載越小,阻值越小,直流負(fù)載越。交流負(fù)載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號反射的原因是4個(gè)方面:探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長度。對于交流負(fù)載,我們需要考慮:探測點(diǎn)在傳輸線的位置,總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。

影響邏輯分析儀的正常使用的問題。針對上述提出的問題,在原有的邏輯分析儀基礎(chǔ)上進(jìn)行創(chuàng)新設(shè)計(jì)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:解決的技術(shù)問題針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實(shí)用新型提供了一種便于散熱通風(fēng)的邏輯分析儀,解決了現(xiàn)有的部分邏輯分析儀常放置于機(jī)房內(nèi)或工作室內(nèi),且邏輯分析儀處于相對封閉的狀態(tài),使得邏輯分析儀內(nèi)部的組件在工作中產(chǎn)生的熱量無法很好地排出,導(dǎo)致邏輯分析儀內(nèi)部溫度較高,影響邏輯分析儀的正常使用的問題。技術(shù)方案為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種便于散熱通風(fēng)的邏輯分析儀,包括邏輯分析儀本體歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。I2C/SPI協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

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但由于“轉(zhuǎn)到”操作,剩余的序列步驟可以以任意順序執(zhí)行。執(zhí)行一個(gè)序列步驟且布爾邏輯表達(dá)式均為假時(shí),邏輯分析儀將采集下一樣本并再次執(zhí)行同一序列步驟于“KeepacquiringmoresamplesuntilDATA=7000,thentrigger”。如果符合一個(gè)序列步驟中的布爾邏輯表達(dá)式,那么在執(zhí)行下一序列步驟之前總是采集另一樣本。換句話說,如果一個(gè)樣本符合序列步驟1的條件,在執(zhí)行序列步驟2前將采集另一樣本。這意味著一個(gè)單獨(dú)的樣本不可能符合多個(gè)序列步驟的條中的條件二者之間采集了新的樣本,因此邏輯分析儀不會(huì)在采集樣本#1時(shí)觸發(fā)。可將此觸發(fā)序列看作是“FindADDR=1000followedbyDATA=2000andthentrigger”。觸發(fā)序列中的多序列步驟暗示了“后接”。邏輯分析儀觸發(fā)后,將不會(huì)再次觸發(fā)。換句話說。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。歐奧協(xié)議分析儀是眾多客戶明智的選擇!徐州SDIO協(xié)議分析儀報(bào)價(jià)

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如果在時(shí)鐘沿檢測器重置之前出現(xiàn)第二個(gè)時(shí)鐘沿(在個(gè)時(shí)鐘沿后),為避免數(shù)據(jù)丟失需要兩個(gè)樣本。在跳變定時(shí)中,每個(gè)序列步驟只有2個(gè)分支。在跳變時(shí)序中,只有一個(gè)全局計(jì)數(shù)器可用。跳變時(shí)序需要有時(shí)間標(biāo)簽才能重建數(shù)據(jù)。通過將時(shí)間標(biāo)簽與內(nèi)存中的測量數(shù)據(jù)交叉可存儲(chǔ)時(shí)間標(biāo)簽。默認(rèn)情況下,分析儀將查找為邏輯分析儀模塊定義的所有總線/信號上的轉(zhuǎn)變。但是,為增加可用內(nèi)存深度和采集時(shí)間,可以在高級觸發(fā)中選擇不存儲(chǔ)某些總線/信號轉(zhuǎn)變(如將無用信息添加到測量中的時(shí)鐘或選沖信號)。運(yùn)行測量時(shí),無論總線/信號是否定義或是否分配給邏輯分析儀通道,都將在所有這些通道上采集數(shù)據(jù)。在跳變時(shí)序模式中,如果定義的總線/信號(未排除的)上存在轉(zhuǎn)變,將保存采集的樣本。運(yùn)行跳變時(shí)序測量后,如果為以前未分配的邏輯分析儀通道定義新的總線/信號,那么將顯示在這些通道上采集的數(shù)據(jù),但是不可能存儲(chǔ)這些總線/信號上的所有轉(zhuǎn)變;顯示的數(shù)據(jù)好似新的總線/信號在運(yùn)行測量前就已經(jīng)被排除了。在跳變時(shí)序中,不需要預(yù)先存儲(chǔ)數(shù)據(jù)(觸發(fā)前獲得的樣本)。因此,與狀態(tài)模式非常相似的是,觸發(fā)位置(起始/中心/結(jié)束)表明觸發(fā)后樣本占用內(nèi)存的百分比。深圳I2C/SPI協(xié)議分析儀電話